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VGMETROLOGY 专为测量技术人员而设计。我们的通用度量解决方案将您的工业计算机层析成像(CT)扫描仪变为全面而准确的测量工具。
VGMETROLOGY 中的 Volume Graphics Metrology Kernel 已经通过了 PTB(德国联邦物理技术研究院)与 NIST(美国国家标准与技术研究院)的测试。*
* 获得 PTB 和 NIST 认证:本软件包含了 Volume Graphics Metrology Kernel VGMK 2023.1.0,其不仅分别通过了“Evaluation software based on least-squares method for coordinate measuring machines”(基于最小二乘法的坐标测量仪评估软件)的 PTB(德国联邦物理技术研究院)测试和“Evaluation software based on minimum-zone method for coordinate measuring machines”(基于最小区域法的坐标测量仪评估软件)的 PTB 测试,而且还通过了 NIST(美国国家标准技术研究院)“Algorithm Testing and Evaluation Program for Coordinate Measuring Systems”(坐标测量系统的算法测试和评估程序)的验证。测试结果均在 Windows(64 位)操作系统中获得。
与接触式方法和光学方法不同的是,CT 可以全面地扫描对象的所有表面,即使这些表面位于部件内部,或者难以捕捉。
CT 是计量应用的理想基础。接触式坐标测量方法是无损的,而 CT 也是无侵入的。这就说明 CT 测量不会让部件变形。而且,与光学方法有所不同的是,即使这个部件发生反射或者是半透明的,CT 的准确度仍然保持不变。
.mvgl 文件包含了最佳对象表面,且没有任何质量损失。
同时,一个 .mvgl 文件所占的空间要小于一个 .stl 文件所占的空间,而精确度所差无几。然而,与 .stl 格式不同,.mvgl 文件更小的原因是因为它仅仅包含了对象的表面。 在 .stl 文件里,多边形网格大致描绘了对象的表面。 这个 .stl 文件越小,网格的精确度就会越低。
.mvgl 文件里包含了以亚体素精度测定的表面。为了达到亚体素精度,VGMETROLOGY 会处理每一个体素的灰度值,令那些甚至小于一个体素的细节也能够清晰可见。*
我们的 .mvgl 格式把测量技术人员需要的所有功能整合成一个易于处理的简洁文件。在通过互联网交换计量数据集时,这一点能够带来很大的便捷。
* VGMETROLOGY ES 与 VGMetrology VIEWER 可以用来处理亚体素精度的表面,但无法执行表面测定。
* 可选的附加模块需要另行收费。支持的 CAD 格式:CATIA V4 (至 4.2.5)、 CATIA V5 (至 V5 6R2023)、 JT(至 10.9)、Unigraphics/NX(Unigraphics 11.0 至 NX 2406)、Creo(至 10.0)、SolidWorks(97 至 2023)。处在测试状态:Solid Edge (V19 至 2023)。CAD 平移技术由 Tech Soft 3D 提供。
** 可选的附加模块需要另行收费。CATIA V5 与 Creo 支持产品制造信息(PMI)导入。测试状态下的 Pro/ENGINEER 与 Unigraphics/NX 也支持。CAD 平移技术由 Tech Soft 3D 提供。
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VGMETROLOGY 有三个版本:独立版本,配备表面测定功能;精简版 VGMETROLOGY ES,可以打开具有已测定表面的 .vgl 与 .mvgl 文件;以及查看软件 VGMETROLOGY VIEWER。
“.mvgl”格式把测量技术人员需要的所有功能整合成一个易于处理的简洁文件。这个文件包含了最佳对象表面,且没有任何质量损失。